Logo

VLSI Test Principles and Architectures

40297 LEI
44774 LEI
-10%
În Stoc
Descriere

This book is a comprehensive guide to new DFT methods that will show the readers how to design a testable and quality product, drive down test cost, improve product quality and yield, and speed up time-to-market and time-to-volume.

Detalii
  • ISBN: 9780123705976
  • Autori: Laung-Terng Wang, Cheng-Wen Wu, Xiaoqing Wen
  • Limba: Engleză
  • An apariție: 2006
  • Coperta: Hardcover
  • Editura: Elsevier Science
  • Nr. pagini: 808
  • Greutate: 1770gr
Ratings
to add a review
Recenzii
  • Nicio recenzie găsită.

📚

Suntem în construcție!

Pregătim o nouă experiență pentru cititori.
Între timp, te invităm să vizitezi ebookshop.ro.

Mergi la site-ul existent →

Redirecționare automată în 5 secunde…